服务热线:

18924229947


使用方法

您现在的位置:主页>新闻资讯>使用方法


如何使用镀层测厚仪测量镀层厚度

浏览次数:184 更新日期:2024-01-08

摘要:

在工业生产和质量控制中,精确测量镀层厚度至关重要。镀层测厚仪作为一种高精度的测量工具,能准确快速地测量各种材料表面上的涂层厚度。以下是使用镀层测厚仪测量镀层厚度的基本步骤:一、准备工作在开始测量之前,需要先准备好镀层测厚仪,确保电池充足,仪器状态良好。同时,需要了解待测镀层的材质、涂层类型以及基材的....

在工业生产和质量控制中,精确测量镀层厚度至关重要。镀层测厚仪作为一种高精度的测量工具,能准确快速地测量各种材料表面上的涂层厚度。以下是使用镀层测厚仪测量镀层厚度的基本步骤:

image.png

一、多种测量镀层厚度的方式

1. 磁感应法测量镀层厚度

利用测头经过非铁磁的覆层而流入铁磁性金属基体的磁通量的大小来确定镀层的厚度。适合测量钢铁等铁磁性金属基体上的非磁性金属镀层,如涂料、清漆、搪瓷、塑料、橡胶覆层,镀铬、镀锌、镀镉、镀铜层等有色金属电镀层以及各种防腐涂层。

2. 电涡流测厚法镀层测厚仪

通过高频交流信号在测头线圈中产生电磁场,测头靠近导体时,就在其中形成涡流。测头离导电基体越近,则涡流愈大,反射阻抗能力越大。这个反馈作用表征了测头与导电基体之间距离的大小,也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。

3. 其他镀层厚度测量方式

除了上述的磁性和涡流测厚法,还有楔切法,光学法(如轮廓尺寸测量法,双光束显微镜法),电解法(如阳极溶解库伦法)、金相法、化学法(点滴法,溶解称重法,计时液流法),机械法(如称重法,厚度差测量法),X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法等多种镀层厚度测量方式。其中电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。X射线和β射线法也属于无接触无损测量,测量范围较小,X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。


二、YT8500镀层测厚仪测量镀层厚度

一、准备工作


在开始测量之前,需要先准备好镀层测厚仪,确保电池充足,仪器状态良好。同时,需要了解待测镀层的材质、涂层类型以及基材的导电性能等基本信息。


二、校准仪器


为保证测量精度,需先对镀层测厚仪进行校准。根据不同的测量原理,可能需要选择不同的校准方法。例如,对于磁感应法测厚,需要使用标准片进行校准;而对于电涡流测厚,则可以使用已知涂层厚度的标准试样进行校准。


三、设置参数


根据已知的涂层类型和基材的导电性能等信息,设置镀层测厚仪的相关参数。这些参数包括涂层的导磁率、电导率等,以确保测量的准确性。


四、测量镀层厚度


在开始测量时,将测头接触到涂层表面,保持测头与涂层表面平行。慢慢移动测头,使测头与涂层表面完全接触,此时仪器会显示出涂层的厚度。为保证测量的准确性,建议在同一位置进行多次测量,并取平均值。


五、数据处理与报告


测量完成后,需要对数据进行处理和记录。对于不同的涂层类型和基材,需要建立相应的数据库,以便快速对比和处理数据。根据实际需求,可以生成相应的报告,例如涂层厚度分布图、合格率等。


在实际应用中,除了磁感应法和电涡流法外,还有多种测量镀层厚度的方法。例如,X射线荧光法可以用于测量金属和非金属基材上的涂层厚度;β射线反向散射法可以用于测量薄膜厚度;以及利用原子力显微镜(AFM)和扫描隧道显微镜(STM)等高精度仪器进行微观尺度的涂层厚度测量。


使用镀层测厚仪测量镀层厚度是一个相对简单的过程,但要获得准确的测量结果,需要具备一定的操作技巧和经验。在实际应用中,应根据具体情况选择合适的测量方法和仪器,并严格按照操作步骤进行测量。同时,为保证测量结果的准确性,建议定期对仪器进行校准和维护。

1704692666760649.jpg

三、镀层测厚仪介绍



产品型号YT8500
产品名称专业版分体两用涂层测厚仪
特性
YT系列涂层测厚仪是3nh公司制造的完全拥有自主知识产权的国产涂层测厚仪,能快速、精准的无损检测各种涂覆在金属基底上的涂层厚度。仪器完全符合ISO 2178、ISO 2360、GB/T 4956、GB/T 4957、ASTM B499等标准规定的磁性法和涡流法测试原理。
仪器测量精准、测试量程大、多种校正模式、多种测量模式、定位方便、功能强大,广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业等表面工程检测领域,是涂层表面处理行业的基本装备。
Fe基探头可检测喷涂在各种磁性基体(比如钢铁)上的各种非磁性涂层厚度,例如铁板的油漆层、喷粉层、涂瓷层、镀铬层、镀铜层、镀锌层等。
NFe基探头检测喷涂在非磁性金属基底(比如铝、铜、黄铜、不锈钢等)上所有绝缘涂层厚度,例如油漆层、喷粉层、涂瓷层等。
符合标准ASTM B499,ASTM D1400,ASTM D709;
ISO 2178,ISO 2360,ISO 2808;
GB/T 4956,JB/T 8393
基体模式铁基/非铁基
探头形式分体式
定位结构/
分辨率0.1μm
测量范围0~5000μm
测量精度零点校正:±(3%H+1)μm;
两点校正:±(1~3%H+1.5)μm;
注:H为样品厚度
显示屏IPS全彩屏, 1.14inch
接口Type C USB;蓝牙5.0;按键
存储数据3500条,通过手机APP可扩展海量存储
电池电量锂电池,充满电单次可连续测试10000
测量模式基础模式、品管模式、连续模式、统计模式
最小测量尺寸磁性:10×10mm;
非磁性:10×10mm
最小测量厚度磁性:0.2mm;
非磁性:0.05mm
最小曲率凸面半径5mm;凹面半径10mm
显示单位μm/mil
尺寸102×50×20mm(探头Ø18x69)
重量80g
工作温度0~40ºC(10~90%RH无凝露)
储存温度 -10~50ºC
软件支持微信小程序,鸿蒙,Windows,Andriod,IOS
标准附件基体2块(铁基体,铝基体),腕带,擦拭布,USB数据线,定位片,校准片
可选附件打印机,5V-2A电源适配器
注:校准片一套5片(厚度略有差异),技术参数仅为参考,以实际销售产品为准